半导体行业压缩空气CDA检测 0.1μm particles检测案例
时间：2023-11-23 14:19
在半导体行业中，对压缩空气CDA（Clean Dry Air）中的0.1μm颗粒进行检测是非常重要的，以确保半导体制造过程中的洁净度和质量。
半导体制造过程依赖压缩空气的参与，直接接触到产品的产品，洁净空气有着严苛的需求，以确保生产出高质量的半导体产品，0.1μm颗粒的检测至关重要，因为这些微小的颗粒可能会导致半导体器件的缺陷或故障。
检测方法：用于检测0.1μm颗粒的现场检测，需要高精密度的激光尘埃粒子计数器，这个粒径的激光粒子技术基本掌握在发达国家，国内号称可检测0.1微米的激光粒子计数器，送检合格率较低。
0.1μm颗粒激光尘埃粒子计数器维护保养成本也较高，因此半导体工厂在验收，或者产品质量不稳定时，会委托第三方机构进行压缩空气洁净度检测。
大湾检测采用进口粒子计数器，操作人员有着行业经验20年，可正确操作使用激光尘埃粒子计数器。并对检测异常的情况，可做快速判断和处理。
半导体行业中的相关标准和要求，如ISO8573标准，以确保检测的可靠性和一致性。
我们帮助客户分析检测数据，包括如何解释结果，如不可能可能的原因，并确定是否符合行业标准。
